Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja

diplomski rad

• Naslov (engleski): Determination of La1-xSrxMnO3 crystal lattice parameters by Rietveld refinement
• Autor: Marija Raspor
• Mentor: Jelena Macan (mentor)
• Član povjerenstva: Jelena Macan (predsjednik povjerenstva)
• Član povjerenstva: Marica Ivanković (član povjerenstva)
• Član povjerenstva: Anamarija Rogina (član povjerenstva)
• Ustanova koja je dodijelila akademski / stručni stupanj: Sveučilište u Zagrebu; Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije; Zagreb
• Datum i država obrane: 2021-07-07, Hrvatska
• Znanstveno / umjetničko područje, polje i grana: TEHNIČKE ZNANOSTI; Kemijsko inženjerstvo

Sažetak

Cilj ovog rada bio je odrediti parametre kristalne rešetke stroncijem dopiranih lantanovih manganita (La1-xSrxMnO3) Rietveldovom metodom utočnjavanja te usporediti uspješnost utočnjavanja korištenjem tri različita modela. Uzorci La1-xSrxMnO3 (x = 0, 0,1, 0,2, 0,3 i 0,5) pripremljeni su postupkom koprecipitacije nakon čega su karakterizirani rendgenskom difrakcijskom analizom (XRD). Eksperimentalno dobiveni podaci su utočnjavani s teorijskim Pseudo Voigt, Triple Pseudo Voigt te Thompson-Cox Pseudo Voigt modelima u softverskom paketu FullProf. Najbolje slaganje modela i eksperimentalnih podataka dobiveno je za Pseudo Voigt i Thompson-Cox Pseudo Voigt model. Triple Pseudo Voigt model dao je najlošije slaganje s eksperimentalnim podacima zbog prevelikog broja parametara koje model koristi za utočnjavanje zbog čega „zaluta“ u lokalne minimume.

Sažetak (engleski)

The aim of this research was to determine the crystal lattice parameters of strontium doped lanthanum manganites (La1-xSrxMnO3) by the Rietveld refinement method using three different methods. The La1-xSrxMnO3 samples (x = 0, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5) were prepared by the coprecipitation procedure, after which they were characterized by X-ray diffraction analysis (XRD). The experimentally obtained data were refined with theoretical Pseudo Voigt, Triple Pseudo Voigt and Thompson-Cox Pseudo Voigt models in the FullProf suite. The best refinement was achieved using Pseudo Voigt and Thompson-Cox Pseudo Voigt models. The Triple Pseudo Voigt model has shown the worst match with the experimental data due to the excessive number of parameters that the function uses for refinement, which makes it "stray" into the local minima.

• Ključne riječi: koprecipitacija; rendgenska difrakcijska analiza; Rietveldova metoda utočnjavanja
• Ključne riječi (engleski): coprecipitation; X-ray diffraction analysis; Rietveld refinement
• Jezik: hrvatski
• URN:NBN: urn:nbn:hr:149:112801
• Projekt: Šifra: IP-2018-01-5246; Naziv: Nanokompoziti s perovskitima za fotovoltaike, fotokatalizu i senzoriku; Kratica: NanoPeroPhotoSens; Voditelj: Andreja Gajović; Pravna nadležnost: Hrvatska; Financijer: HRZZ; Linija financiranja: IP
• Studijski program: Naziv: Kemija i inženjerstvo materijala; Vrsta studija: sveučilišni; Stupanj studija: diplomski; Akademski / stručni naziv: magistar/magistra inženjer/inženjerka kemijskog inženjerstva (mag. ing. cheming.)
• Vrsta resursa: Tekst
• Način izrade datoteke: Izvorno digitalna
• Prava pristupa: Pristup korisnicima matične ustanove
• Datum i vrijeme pohrane: 2023-04-06 13:05:25